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解决台式XRF测厚仪测试时偏差大的问题

  • 发布日期:2022-12-03      浏览次数:254

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      仪器类型:

       

      台式XRF镀层测厚仪

       

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      问题现象描述:

       

      客户在测试同一产品时,两台仪器测试偏差很大。

       

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      现场服务方案:

       

      日立分析仪器的服务工程师接到报修后,远程判断了设备软硬件均出于稳定状态,协助客户建立新的档案后,发现问题依旧存在。

       

      在客户现场,工程师具体了解情况后发现客户有两块同样厚度的标准片,而两台设备分别使用这两块标准片建立测试程序。经过反复比对,发现其中有一个标准片的标称值与实际值存在较大差异,而该标准片没有任何校准证书,联系了供应商后,对方承认该标准片确实未经校准。客户及时停止了全部成品的发货,利用数值正确的标准片建立档案的设备再次进行筛选,从而避免了更大的损失。

       

      产品简介:

      利用X射线荧光(XRF)进行镀层厚度测量和材料分析,提高过程和质量控制。
      X-Strata
      是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备,提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。
      它在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出优异的分析能力,可进行多镀层厚度的测量。

      镀层测厚仪X-Strata系列提供:
      1】无损分析:无需样品制备
      2】经行业认证的技术和可靠性
      3】操作简单,只需要简单的培训
      4】分析只需三步骤
      5】杰出的分析准确性
      6】在镀层测厚领域拥有超过20年的丰富经验
      7】使用功能强大、操作简单的X射线荧光光谱仪进行镀层厚度测量,保证质量的同时降低成本。


      沈阳华仪作为东北地区著名科学检测设备集成供应商,将继续以支持东北地区科研、高校及工业企业发展为己任,为广大东北三省地区用户提供易用、快速、可靠的分析仪器;同时我们遍布东北三省的服务团队也可以为用户提供系列服务套餐,包括配件和耗材、延保合同、产品培训、服务维修和技术等。


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